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四探針測試儀

產(chǎn)品簡介

四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。

產(chǎn)品型號：DP-ST2258A
更新時間：2020-09-02
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：2257

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概述
　　DP-ST2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
　　本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類能，zui大分類10類
　　儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     1.0×10-3 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω
電 阻 率：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
方塊電阻：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□
2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸
直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級

量程
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
誤差
±0.5%FSB±1LSB（在各量程范圍內(nèi)），量程或欠量程可測量，但誤差將隨欠程度而變大

4） 作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5） 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈   重：≤1kg

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